产品信息

图像传感器

把化合物半导体InGaAs光电二极管与Si读出电路通过Cu-Cu键连接而实现的广域波普和高灵敏度的SWIR图像传感器技术。

*SenSWIR和徽标是索尼集团公司的商标。

* 点击该按钮将跳转到本公司的委托公司salesforce.com Co., Ltd.的网站。请使用英语咨询。

实现高像素和小型化

将具备感光功能的光电二极管的InGaAs(铟镓砷)层与具备读出电路的Si(硅)层接合时,传统的图像传感器为了确保连接中的凸起间距,与现行的工业用CMOS图像传感器相比,具备像素无法微缩的劣势,难以实现像素微细化。本技术利用Cu-Cu连接*1方式,缩小像素间距,实现了像素尺寸的微细化。这样,不仅有望在保证高分辨率的同时,缩小相机尺寸,还有助于提升检测精度。

  • *1:将像素芯片(上方)与逻辑芯片(下方)堆栈在一起时,通过连接两个Cu(铜)片导通电流的技术。Cu-Cu技术与TSV技术( 通过像素区外的周边区域放置过孔来导通上下芯片电路的连接技术)相比,可提高设计自由度和生产效率,有望实现小型化、高性能化。

包含可见光的光域波段成像

运用独有的SWIR图像传感器技术,将吸收可见光的InP(铟磷)层*2薄膜化,让透过的光直达下方的InGaAs(铟镓砷)层,在可见光波段也具备了较高的量子效率。由此,实现了从0.4μm到1.7μm的广域波段成像。过去可见光用途和SWIR用途的应用需要使用不同相机才能实现,现在只需1台相机就能满足全部需求。这项技术有助于削减系统成本,通过减轻图像处理负荷提升处理速度,大幅度扩展检测对象的领域和范围。

  • *2:以InGaAs(铟镓砷)层为基础的基板。

什么是SWIR

SWIR(Short Wavelength Infra-Red)是红外线的一种,即短波长红外线。一般,SWIR的波段为0.9μm-2.5μm,是红外线中接近于可见光的波段。IMX990/IMX991支持SWIR波段中1.7μm以下的波段,并且,在传统SWIR图像传感器难以感知到的可见光的波段中也能成像。

SWIR特性应用事例

果蔬水分检测

  • 可见光环境

  • SWIR环境

SWIR波段的光包含表现水分吸收的波段,利用这一波段,可检测出可见光下难以识别的水分。利用这一性质,这项技术被应用于果蔬挑选等用途。
(照片:检测苹果瘪痕中的水分)

异物检测

  • 可见光环境

  • SWIR环境

利用SWIR波段的光的吸收特性、反射特性,可以捕捉到可见光下难以捕捉到的物质。利用这一性质,这项技术被应用于异物检测等用途。
(照片:检测食品中的塑料片、金属片)

半导体检测

  • 可见光环境

  • SWIR环境

利用SWIR波段的光可透过Si材质的性质,应用于半导体制造、检测的用途。
(照片:放在图表前的Si晶片)

温度推测

  • 可见光环境

  • SWIR环境

SWIR波段的光会对高温物质显示出高亮度,利用多个波长的亮度差,可推测温度。利用这一性质,这项技术被应用于焊接部等高温部的温推测。
(照片:烙铁前端高温部的检测)

远距离观察

SWIR相比可见光,波长更长,因此,不易受空气中微粒子的影响,可应用于远距离观察。

索尼的SWIR产品

可见光波段内也能成像的SWIR图像传感器
索尼已经推出了2款SWIR图像传感器商品,可拍摄可见光和非可见光SWIR波段内的影像。

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白皮书

搭载SenSWIR技术的图像传感器介绍

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